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    新技术提高氙灯试验设备条件参数控制的稳定性

    文章出处:公司动态 责任编辑:东莞市环仪仪器科技有限公司 发表时间:2018-04-10
      

    在试验设备的技术方面,虽然现在的氙灯暴露试验设备能够对辐照度进行自动控制,但也存在以下不足:局限于对某个单一波长(如 340nm、420nm)的光或某一特定波长范围(如 300nm~400nm、300nm~800nm)的光的辐照度进行测控,不能提供氙弧光谱中除控制的波段以外的其他波长光的辐照度值。但当今的技术已能够实现氙弧光的全光谱范围辐照度的测控,可以选择全光谱范围内任何波长或波长范围的光进行监控。

    因此,在未来的氙灯试验设备上,希望尽早采用这一技术,这样就可以自由选择感兴趣的波长或波长范围作为控制点,有针对性选择材料敏感的 UV 波长直接控制,同时可以提供全光谱范围内氙弧光的辐照度数据,对于基于性能的标准,方便用户确认其所选择的滤光系统是否符合标准要求并能够准确知道何时需要更换滤光器,以控制光谱能量分布的改变在允许的范围内。

    辐照度测控系统的稳定性和耐久性也是亟待改进的地方,目前有些型号的氙灯需要频繁地校准功率和辐照度的测量系统,就是因为其电路参数容易漂移或光学部件的老化。校准虽然能一定程度地控制辐照度测量系统的变化,但毕竟是一种调整手段,而且会中断试验的连续性,带来额外的影响。如果能在测量系统电路参数及光学部件的设计和选材上采用新的技术来提高其稳定性和耐久性,则会带来根本性的改变:不再需要频繁地中断试验进行校准;可以更有信心地采用试验时间或辐照量来控制试验持续期,而不需要依赖标准物质来验证辐照度的准确性。

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